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半球发射率测试系统
发布时间:2025-04-30        浏览次数:0        返回列表
 以下是对半球发射率测试系统的工作原理与技术的详细解析:
  1.稳态卡计法
  原理:稳态卡计法通过在样品达到热平衡状态时,利用斯蒂芬-波尔兹曼定律来测量材料的半球发射率。当样品温度稳定后,通过测量加热器的功率、样品温度以及室内壁温度,可以计算出样品的半球发射率。
  优点:测试精度高,适用于宽温区范围,且不受材料导热系数和比热容的限制。
  2.瞬态卡计法
  原理:瞬态卡计法通过在短时间内连续测量样品在不同温度下的发射率,要求样品具有良好的导热性,以保证冷却过程中无温度梯度。这种方法需要获取材料在不同温度下的比热容数据。
  应用场景:适用于导热性好的材料,但不适用于低热导率材料。
  3.量热法
  原理:量热法通过测量样品吸收或放出的热量来确定其半球发射率。在真空条件下,量热法被认为是一种高精度的绝对测量方法。
  分类:包括稳态法和瞬态法两种主流方法。
  稳态法:如保护电热法、间接电热法等,通过维持样品在恒定温度下进行测量。
  瞬态法:如辐射加热法、直接通电热脉冲法等,通过快速加热样品并测量其温度变化来推算发射率。
  4.光谱分析法
  原理:利用红外光谱仪等设备测量材料在不同波长下的辐射强度,从而计算其半球发射率。这种方法可以提供关于材料辐射特性的详细信息。
  应用:广泛应用于材料科学、热工程设计等领域。
  https://www.chem17.com/st602784/erlist_2488856.html
  http://www.hnjp10.net/Products-38087917.html
原文链接:http://ssskk2.zbyunfeijx.com/news/itemid-7575.shtml,转载和复制请保留此链接。
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